Специализированная логика

    制造商 Серия Корпус/корпус Упаковка Состояние продукта Тип логики Напряжение питания Количество бит Рабочая температура Марка Квалификация Тип крепления Устройство поставщика Упаковка


















































































































































































































































































































































































































































































































































    全部重置
    应用所有
    结果:
    Фотографии Производитель. Часть # Доступность Price Количество Таблицы данных Серия Корпус/корпус Упаковка Состояние продукта Тип логики Напряжение питания Количество бит Рабочая температура Марка Квалификация Тип крепления Устройство поставщика Упаковка
    SN74F1016DWR

    SN74F1016DWR

    IC DIODE ARRAY RC TERM 20-SOIC

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74F1016DWR

    Таблицы данных

    74F 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Tape & Reel (TR) Active Schottky Barrier Diode Bus-Termination Array - 16 0°C ~ 70°C - - Surface Mount 20-SOIC
    SN74BCT8244ADWR

    SN74BCT8244ADWR

    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74BCT8244ADWR

    Таблицы данных

    74BCT 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Tape & Reel (TR) Discontinued at Digi-Key Scan Test Device with Buffers 4.5V ~ 5.5V 8 0°C ~ 70°C - - Surface Mount 24-SOIC
    SN74AS882ADWR

    SN74AS882ADWR

    LOOK-AHEAD CARRY GENERATOR

    Texas Instruments

    1,969
    RFQ
    SN74AS882ADWR

    Таблицы данных

    * - Bulk Active - - - - - - - -
    SN74BCT2414DW

    SN74BCT2414DW

    IC MEMORY DECODER 20-SOIC

    Texas Instruments

    111
    RFQ
    SN74BCT2414DW

    Таблицы данных

    74BCT 20-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Bulk Active Memory Decoder 4.5V ~ 5.5V - 0°C ~ 75°C - - Surface Mount 20-SOIC
    SN74S283N

    SN74S283N

    IC 4BIT BINARY FULL ADDER 16-DIP

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74S283N

    Таблицы данных

    74S 16-DIP (0.300", 7.62mm) Bulk Active Binary Full Adder with Fast Carry 4.75V ~ 5.25V 4 0°C ~ 70°C - - Through Hole 16-PDIP
    SN74LS381AN

    SN74LS381AN

    ALU, LS SERIES

    Texas Instruments

    356
    RFQ
    SN74LS381AN

    Таблицы данных

    * - Bulk Active - - - - - - - -
    SN74SSTVF16857GR

    SN74SSTVF16857GR

    IC REG BUFF 14BIT SSTL 48-TSSOP

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74SSTVF16857GR

    Таблицы данных

    74SSTVF 48-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) Tape & Reel (TR) Active Registered Buffer with SSTL_2 Compatible I/O for DDR 2.3V ~ 2.7V 14 0°C ~ 70°C - - Surface Mount 48-TSSOP
    SN74ABT8952DWR

    SN74ABT8952DWR

    IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74ABT8952DWR

    Таблицы данных

    74ABT 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Tape & Reel (TR) Obsolete Scan Test Device with Registered Bus Transceiver 4.5V ~ 5.5V 8 -40°C ~ 85°C - - Surface Mount 28-SOIC
    SN74BCT8244ANT

    SN74BCT8244ANT

    IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74BCT8244ANT

    Таблицы данных

    74BCT 24-DIP (0.300", 7.62mm) Tube Obsolete Scan Test Device with Buffers 4.5V ~ 5.5V 8 0°C ~ 70°C - - Through Hole 24-PDIP
    SN74BCT8373ANT

    SN74BCT8373ANT

    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

    Texas Instruments

    0
    RFQ
    SN74BCT8373ANT

    Таблицы данных

    74BCT 24-DIP (0.300", 7.62mm) Tube Obsolete Scan Test Device with D-Type Latches 4.5V ~ 5.5V 8 0°C ~ 70°C - - Through Hole 24-PDIP
    Общий 437 Записывать«Предыдущая1... 1011121314151617...44Следующий»
    HOME

    ДОМ

    PRODUCT

    ПРОДУКТ

    PHONE

    ТЕЛЕФОН

    USER

    ПОЛЬЗОВАТЕЛЬ